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PhenoTron®-HSI 種質資源高光譜成像分析系統
更新時間:2025-07-02
訪問次數:3084
PhenoTron®-HSI種質資源高光譜成像分析系統,是易科泰公司推出的可用于種質資源檢測鑒定、種子活力檢測、種質資源表型性狀監測評估的高光譜成像分析系統,具備快速、非損傷、高通量特點。可應用于種子、幼苗及根系等種質資源表型性狀成像分析、葉綠素熒光成像檢測、次級代謝產物熒光成像分析、種子活力檢測、成分含量分析、種質資源性狀監測評估等。
品牌其他品牌成像方式推掃式
價格區間面議使用狀態機載/地面均可
工作原理推掃型應用領域環保,農林牧漁,地礦,道路/軌道/船舶,綜合

種子及種苗形態結構、活力、適合度、抗逆性、脅迫敏感性、生理生化指標等是作物種質資源品質監測評估的重要指標體系,其中種子活力是種子發芽和出苗率、幼苗生長的潛勢、植株抗逆能力和生產潛力的總和(發芽和出苗期間的活性水平與行為),是種子品質的重要指標,具體包括吸漲后旺盛的代謝強度、出苗能力、抗逆性、發芽速度及同步性、幼苗發育與產量潛力。種子活力是植物的重要表型特征,傳統檢測方法包括低溫測試(cold test)、高溫加速衰老測試(accelerated aging test)、幼苗生長測定等。

PhenoTron®-HSI種質資源高光譜成像分析系統,是易科泰公司推出的可用于種質資源檢測鑒定、種子活力檢測、種質資源表型性狀監測評估的高光譜成像分析系統,具備快速、非損傷、高通量特點。可應用于種子、幼苗及根系等種質資源表型性狀成像分析、葉綠素熒光成像檢測、次級代謝產物熒光成像分析、種子活力檢測、成分含量分析、種質資源性狀監測評估等,還可應用于雜質檢測、病原體檢測、成分檢測、種質資源數字化、種苗(包括根系)成像分析、遺傳育種性狀檢測與抗性篩選等。

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產品特點:

ü PTS技術,樣品自動傳送、無線控制、同步掃描成像分析、環境光屏蔽等功能于一體

ü 雙重控制:嵌入式操作系統+PC端GUI軟件,無線控制平臺運行

ü 組合命令:支持自定義Protocols,可設置10條以上命令,實現系統自動運行

ü 內置溫濕度、光照度傳感器、時鐘,實時反饋環境參數,可一鍵同步電腦時間

ü 集高光譜成像分析技術、高光譜熒光成像分析技術于一體,全面分析種質資源光譜指紋、生理生化組成(蛋白質、脂肪含量等)、種子活力等

ü 可選配Thermo-RGB紅外熱成像分析,用于種質資源綜合檢測、種子萌發散熱測量(反應種子代謝強度等)及種苗氣孔動態分析等

ü 可選配紫外光激發生物熒光成像模塊,進行紫外光激發葉綠素熒光成像和BGF(藍綠熒光)成像分析,高通量、高靈敏度檢測種苗活力、光合效率及抗逆性,種質資源生理功能數字化數據庫建設等

 

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技術指標:

ü 平臺高度規格:標配400mm,可定制

ü 有效掃描尺寸:≥300×300mm,可定制

ü 移動速度:2-40mm/s,可調,精度:1mm

ü 主機箱:內置10寸觸控屏,嵌入式操作系統,全波段對稱光源,角度、高度可調,集開關控制、平臺控制、雜散光隔離于一體,確保光場均一、穩定的最佳測量環境

ü 成像傳感器選配:

型號

PhenoTron-FX10

PhenoTron-FX10/17

PhenoTron-sCMOS

PhenoTron-SWIR

波段范圍

400-1000nm

400-1700nm

400-1000nm

1000-2500nm

光譜分辨率

5.5nm

5.5nm / 8nm

2.9nm

12nm

光譜通道

224(bin=2)

224(bin=2)/ 224

946

288

空間像素

1024

1024 / 640

2184

384

信噪比

400:1

400:1 / 1000:1

170:1-680:1

1050:1

數值孔徑

F/1.7

F/1.7

F/2.4

F/2.0

幀頻

330FPS

330FPS / 670FPS

100FPS

450FPS

UV-MCF-M

可選配

可選配

可選配

不可選配

 

ü SpectrAPP®高光譜成像分析軟件:

a) 可進行偽彩色/灰度顯示、波段融合、ROI選區、光譜指數分析、光譜曲線繪制、光譜特征統計、直方圖統計、結果圖/表導出等;

b) 可分析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等數十種VIs參數,研究植物表型及結構信息、生物及非生物脅迫、色素含量、理化性狀、種質、中藥材及果實品種品質等指標;

ü FluorVision©高光譜熒光成像分析軟件:

a) 基本分析:具備偽彩色/灰度顯示、旋轉顯示、閾值掩膜、波段融合、手動/自動ROI分析、光譜曲線繪制、光譜平滑、光譜特征統計、路徑分析、圖/表導出等功能;

b) 熒光參數分析:可分析F440、F520、F690、F740、F690/F740、F520/F690、F735/F700、F440/F520、F440/F690、F440/F740等多種熒光參數,支持擴展;

c) 形態參數分析:可分析色素或校準面積、圓滑度(Circularity)、長寬比(Aspect ratio)、緊實度(Solidity)、圓度(Roundness)等;

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應用案例:

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